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基于CACR-HR05AAB12Y8的MCU验证结构

　　基于VMM的MCU验证就需要充分利用VMM的特点，即为有约束的随机数生成、自动数据对比检查，和功能覆盖率收集。

　　3.1 有约束的随机指令生成

　　CACR-HR05AAB12Y8传统的MCU验证，需要写汇编代码，注入MCU程序ROM进行仿真，汇编代码的质量和覆盖率是影响验证的主要因素。除了可以将应用程序作为 TestCase，只能根据验证目标编写对应的TestCase。这样的TestCase属于Direct TestCase，只能覆盖一部分功能，尤其是MCU有指令组合的情况，以及除了ALU单元的外设单元，当外设单元与内部指令并行工作，Direct TestCase往往是不能满足要求的。这里，VMM提供了有约束的随机数生成，可以将MCU指令集进行分类，将同一格式的指令归为一类，这样可以通过一定的约束随机的生成指令以及指令所需的参数，在下一节的指令类中会详细讲解关于指令的分类与生成。指令生成后，实现了一个汇编器，这个汇编器是由C代码实现的，通过DPI将MCU的C模型接入验证环境中，这样生成的汇编指令可以实时转化为16进制代码，并且直接读入MCU的ROM进行仿真。随机指令生成，可以添加节省人力，并且给出更加特殊的TestCase，此外还可以对易错的情况添加额外的约束，让边缘情况测试几率更大，从而做到更多的验证。

　　3.2 CACR-HR05AAB12Y8自动数据对比检查

　　写汇编代码，读入程序ROM，通过仿真来观测结果，结果的正确性通过波形观察，这种验证方法测试数量比较有限，只能在人力控制范围内进行验证，不适合于递归以及大量TestCase的验证。此外，在以往的MCU验证中，一旦发生功能错误，真正的错误点有可能是多个指令之前，需要往前查找波形，往往 debug时候查找问题源会耗费大量时间，甚至有些深层次的问题因为不属于验证目标，或者不在观测点内，往往会被忽略。在环境里，已经引入的随机的指令生成，这就需要一个参照模型能够生成对应的参照结果。这里实现一个用C语言描述的MCU参照模型，同样通过DPI将MCU的C模型接入验证环境中，这个CACR-HR05AAB12Y8模型以16进制代码作为输入，可以在每一条指令执行写出一个参照结果。MCU的都是通过RAM保存数据，SFR寄存器来保存状态，可以通过对比memory中的数据，来保证MCU的每一条指令的工作状态都是和参考模型是*的。而且每次添加TestCase后都不需要观测波形或是生成参照结果，甚至可以直接将应用程序放入环境中加以测试。在环境里通过C参考模型写出的每一条指令后的状态会保存下来，由ScoreBoard来读入，环境可以读出MCU执行程序 ROM后RAM和SFR的值并传递给ScoreBoard，由ScoreBoard来进行自检，并且在log中写出自检结果。

　　3.3 CACR-HR05AAB12Y8功能覆盖率收集

　　在Direct TestCase下，汇编代码都是特定目的的测试代码，所关注的寄存器状态，或是真实指令执行情况往往很难统计，代码覆盖率能提供的信息相当有限。在 VMM环境中，可以通过模型的执行结果来统计指令的执行情况，因为模型和RTL是功能*的，内部数据每条指令之后都会对比自检，可以将模型运行的结果和模型内部对应的SFR状态位作为功能覆盖率收集点，将关注的功能写为覆盖率模型，在仿真中自动收集，并在仿真所有TestCase后将覆盖率结果合并在一起，给出一个zui终的功能覆盖率，这里要求功能覆盖率和代码覆盖率都为。

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