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美国博曼台式半导体膜厚仪是一款设计紧凑灵活、功能强大的膜厚仪,可以满足各个行业中对质量保证和过程控制的要求。
美国博曼台式半导体膜厚仪是一款设计紧凑灵活、功能强大的膜厚仪,可以满足各个行业中对质量保证和过程控制的要求。
美国博曼台式半导体膜厚仪可分析的样品种类繁多,包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等,检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围,覆盖元素周期表中从AL13到U92间的元素。
它的优势有:
1.高性能、高精度、*稳定性、快速精确的分析带来生产成本*化,精确测定元素厚度,优化的性能可满足广泛的元素测量.
2.坚固耐用的设计:可靠近生产线或在实验室操作,生产人员易于使用.
3.简单的校准调试:在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果,方法建立只需几分钟,我们提供认证标准片以确保*精确度(A2LA 和 ISO/IEC17025),预置了多种校准参数.
美国博曼特别适合于小的镀层测量,如端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业.也有杰出的表现.可测量.单层.双层,合金层等多种镀层.
如果您有什么问题或要求,请您随时。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快!
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