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半导体美国膜厚仪

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更新时间：2018-05-15 14:49:59浏览次数：196次

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产品简介

半导体美国膜厚仪可检测元素范围：AL13 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

详细介绍

半导体美国膜厚仪可检测元素范围：AL13 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

美国膜厚仪贵金属检测，如Au karat评价
材料和合金元素分析，
材料鉴别和分类检测
博曼膜厚仪液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较
博曼膜厚仪主要特点：
薄膜FP软件：可对应于含无铅焊锡在内的合金电镀或多层电镀的测量，应用范围广泛。
可打印检测报告：利用Microsoft的Office操作系统可将检测报告工作之便简单快速地打印出来。
激光自动对焦功能：只需轻轻按一下激光对焦按钮，就可自动进行对焦。
防止冲撞功能：对于测量有高低差的样品时，配置了为防止样品和仪器冲撞的自动停止功能。
：舒翠 136 0256 8074
：

www.kinglinhk.net
地址：深圳市宝安沙井北环大道鸿安大厦502

二手膜厚仪回收及评估
专业从事进口X荧光光谱仪 X射线测厚仪维修校准的服务商。提供检修更换X光管、高压电源、探测器、控制电路板等核心部件、并升级或者以旧换新、以坏换好。
另我们*收购/出售二手X射线镀层测厚仪、膜厚仪、测厚仪等分析检测仪器。
售前/售后服务.以及仪器的评估高价回收换购和租赁服务等
德国菲希尔 FISCHER X-RAY XDLM-C4 XMDVM-T7.1W XDL-B XUL XULM XDV-u 、膜厚仪。

关键词：光谱仪测厚仪高压电源