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x-ray荧光膜厚仪

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更新时间：2018-05-15 15:25:54浏览次数：208次

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产品简介

x-ray荧光膜厚仪测量模式用于：
1.单、双及三层镀层系统。
2.双元及三元合金镀层的分析和厚度测量。

详细介绍

x-ray荧光膜厚仪2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。
x-ray荧光膜厚仪由于X光测厚仪是在线测量仪表，检测的厚度是钢板热态时的厚度，这样会和冷态时的厚度有一定的偏差，所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持*。同样如果轧制材质有变化时，也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测，计算出合金补偿系数，也可以使测量数据和实际材质厚度保持*。

测量模式用于：
1.单、双及三层镀层系统。
2.双元及三元合金镀层的分析和厚度测量。
3.双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）。
4.能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。
5.可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。
6.通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。
7.可编程的应用项图标，用于快速产品选择。
8.完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。
9.报告生成，数据输出。
10.语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文。
11.菜单中的某些选择项可*使用。