霍尔测试仪
产品概述：
本仪器系统由：电磁铁、高.精.度电源、高斯计、高.精.度恒流源、高.精.度电压表、 霍尔探头、电缆、标准样品、样品安装架、系统软件。为本仪器系统专门研制的 JH10 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍耳测量复杂的切矩阵开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。JH10 可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性*的工具。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。
技术指标：
* 磁 场： 间距 10mm 情况下 10700 高斯， 间距 20mm 情况下 7000 高斯。
*样品电流：50nA~50mA（*小可调节电流为 0.1nA）
*测量电压：0.1uV~30V
* 提供各类测试标准材料，各级别霍尔器件（灵敏度与精.度不同）
**小分辨率： 1GS
*磁场范围：0-±1T
*配合高斯计或数采板可与计算机通讯
* I-V 曲线及 I-R 曲线测量等 ▲ 电阻率范围：10-7~1012 Ohm*cm
*电阻范围：10 m Ohms~ 6MOhms
*载流子浓度：103~1023cm-3
*迁移率：0.1~108cm2/volt*sec
*测试全自动化，一键处理
*专业的欧姆接触组合套件
