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产品名称:Ando Q8384 光谱分析仪
Q8384允许DWDM系统监控。这是可能的连续监测,峰值波长,每个通道的电平,信噪比波动是否是在其各自的公差。
产品名称:Ando Q8384 光谱分析仪
产品名称:Ando Q8384 光谱分析仪
产品名称:
产品链接:http://www.atobo。。com.cn/ProductDetailed-1-8799755.html
手机版链接:http://m.atobo.com.cn/ProductDetailed-1-8799755.html
Q8384 产品概述
适用于DWDM系统高精度高速测量
10pm分辨率
宽动态范围:50dB(±0.1nm) 60dB(±0.2nm)
EDFA测量
zui高可输入23dBm(200mW)
门触门测量适用于环路实验
于WDW的分析功能
波长范围:600-1700nm 技术参数电平:zui大输入功率:+23dBm 灵敏度:-87dBm(1250nm-1610nm) 精度:±0.4dB(1550nm) 再现性:±0.02dB扫描:取样点:101,201,501,1001,2001,5001 扫描时间:500ms或以下(频宽10nm普通模式501点)
Q8384允许DWDM系统监控。这是可能的连续监测,峰值波长,每个通道的电平,信噪比波动是否是在其各自的公差。另外,也可以同时显示当前值相对于初始值,*通道的值,参考值,以及显示的值。
Q8384可以同时显示的波形的zui大值,zui小值,电流值,每次测量的重复扫描。波动范围的显示,使用户可以一看就知道对温度和极化变化的器件特性的变化。
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