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ＣＣＥ电容温度特性测试系统

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更新时间：2024-09-03 07:38:45浏览次数：265次

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上海睿威信息科技有限公司

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产品简介

●测试：静电容量（C）、介质损耗Tan（D）、容抗（｜Z｜）、温度（T）等

详细介绍

● 测试：静电容量（C）、介质损耗Tanδ（D）、容抗（｜Z｜）、温度（T）等。
● 配备：操作方便的专用软件
● 控制：测试部・环境试验箱・夹具・专用软件

特点
1）除了高精度，测试样品的操作性（装卸）好。因此，在测量部・环境测试箱部使用操作性好的测量夹具的同时，实现了专用软件一体化控制。
2）测试对象：静电容量（C）、介质损耗Tanδ（D）、容抗（｜Z｜）、温度（T）、过程时间（Min.），实现了从试验条件设定到数据记录的自动化。
3）标准配置：可自动测量20CH电容，最多可增加到60CH。
4) 通过4线方式，可以稳定地进行低电阻测试。

功能概要
规格

No.	项目	量程
1	测试电路	并联／串联
2	测试频率	120Hz～1MHz
3	测试信号(OSC Level)	0.001～2.000Vrms
4	偏压(DC Bias)	0V （标配） 40V （选配） 100V（选配） 600V（选配）
5	测试通道数	20CH（标配） 40CH/60CH（选配）

1) 用Keysight Technologies的LCR测试仪「E4980AL」，实现对电容：容量、诱电正接、容抗的测试。
2) 使用扫描器，实现从20CH到60CH的测试。
3) 使用温度箱，实现温度设定及控制。
4) 读取的数据，可显示、印刷、作成文件导出。
5) 电脑通过Ethernet和RS485实现对系统的控制。
6) 操作系统(OS)为「Windows 10 Pro 64bit」，可通过图形I/F进行操作。

温度控制
1) 可50点进行温控，每次测量都可自动设定温度，并可多次循环重复。
2) 若选定温度基准点，则测量结果将以基准温度点的测试值为标准值，进行变化率计算。
3) 温度设定分辨为1℃
4) 到达设定温度，在等待时间结束后，进行测试。测试结束后，转移到下一个温度。
5) 最后温度段不测试，温度到达后，温度箱控制结束。