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光学膜层厚度测量控制仪CDNY-03AM

阅读:98发布时间:2017-12-6

光学膜层厚度测量控制仪CDNY-03AM

 

                                             

CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术,因而对信号谐波和直流漂移具有*的抑制能力。

主要性能指标及技术指标

主信号通道:
信号输入方式:单端交流输入
输入量程:0.5mV-500mV
信号频率范围:1KHz±5%
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端)
性误差: ≤0.1%
零点时源: ≤0.2%/h
参考信号通道:

信号输入方式:单端交流输入
输入幅度:20-700mV
频率范围:≥320。


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