手持式回损仪JW3308
JW3308手持式回损仪设计用于测量各种光器件、光链路的反射衰耗，控制光纤接头质量，在光纤安装和系统运行的过程中，可测试光回损质量，是应用于现场的*化解决方案。可分别用做光回损测试仪、光功率计、光源，并具有数据存储功能。
技术指标
光回损测试 |
测试波长（nm） | 1310/1550 |
谱宽（nm） | <5 |
显示范围（dB） | 6~70 |
精度（dB） | ±0.5 |
分辨率（dB） | 0.01 |
光功率计 |
波长范围（nm） | 850 ～ 1650 |
校准波长（nm） | 850、1300、1310 、1490、 1550 、 1625 |
检测器类型 | InGaAs |
显示模式 | dBm 、dB 、W |
显示范围（dBm） | －70 ～＋6 |
zui大输入功率（dBm） | ＋6 |
分辨率（dB） | 0.01 |
精度（dB） | 0.3 |
光源 |
波长（nm） | 1310/1550 |
谱宽（nm） | <5 |
zui大输出功率（dBm） | -3 |
稳定度（dB，30min） | ± 0.05 |
调制频率（HZ） | CW, 270, 1K, 2K |
