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HP系列四探针探头

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更新时间：2016-03-28 15:13:47浏览次数：111次

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产品简介

HP系列四探针探头
是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

详细介绍

HP系列四探针探头

HP-501型四探针探头 HP-504型四探针探头

HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

特性及规格：

1	特制之手握式探笔
2	球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3	探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4	探头使用寿命长
5	探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

可选配的型号及规格：