当前位置：北京哈维斯廷科技有限公司>>测高测距仪>>冠层分析系统

冠层分析系统

返回列表页

参考价

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号SunScan

品牌

厂商性质经销商

所在地

在线询价收藏产品

联系方式：廖先生查看联系方式

更新时间：2018-05-15 14:04:58浏览次数：242次

联系我时，请告知来自仪表网

产品分类 品牌分类

  测高测距仪

全部产品列表

暂无信息

北京哈维斯廷科技有限公司

经营模式：经销商

商铺产品：58条

所在地区：北京北京市

联系人：廖先生（技术部）

询价 给他留言

产品简介

用途：SunScan 冠层分析系统通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

详细介绍

SunScan 冠层分析系统

SunScan 冠层分析系统的用途：

通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

SunScan 的原理：

根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及 Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

SunScan 的组成：

SS1探头：一支1米长，内嵌64个光合有效辐射传感器

SunData软件：用来对测量参数进行分析处理

BF3传感器：可计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响。

三角架：用来安放BF3

数据采集终端：采集和分析读数。

参数：

探测器工作区域：1000×13mm宽，传感器间距15.6mm

探测器光谱响应：400 ~ 700nm (PAR)；

探测器测量时间：120ms；

探测器分辨率：0.3μmol. m^-2.s^-1；

探测器zui大读数：2500μmol.m^-2.s^-1

操作温度：0 ~ 60℃；

内存：2M内存，包含程序；1600K RAM 可用于储存数据；

产地： 英国

关键词：传感器



立即询价 您留言后，厂商将第一时间为您服务！

*留言

标题：: 请输入你感兴趣的产品

需求：: 请简单描述您的需求限200字

请简单描述您的需求

*联系人

*电话

单位

微信

同手机号

邮箱

省份

请选择省份

请选择省份
安徽
北京
福建
甘肃
广东
广西
贵州
海南
河北
河南
黑龙江
湖北
湖南
吉林
江苏
江西
辽宁
内蒙古
宁夏
青海
山东
山西
陕西
上海
四川
天津
新疆
西藏
云南
浙江
重庆
香港
澳门
台湾
国外

*验证码

请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：三加四=7

获取其他优质厂商精准报价

提交后，默认您同意《服务条款》和《隐私协议》

冠层分析系统

北京哈维斯廷科技有限公司

收藏该商铺

提示

收藏该商铺

冠层分析系统

北京哈维斯廷科技有限公司

会员登录

收藏该商铺

提示

收藏该商铺

客户评价列表