ESS-801 ESS-801GL NOISEKEN测试仪 试验器
ESS-801/ESS-801GL试验环境
在符合EN/IEC61000-4-2标准的静电试验环境下，
通过使用台式和落地式2种试验器具，以扩大所支持的试验环境。
试验用桌子因为是木制的，对试验的影响较小（高频电磁场可以
毫无损失地施加到受试设备上，所以具有良好的定量性。 ）
因此可以进行重复性较高的试验。与此同时，具有多种用途，
可以用于电快速瞬变脉冲群试验和高频噪声等试验当中。
● 符合EN/IEC61000-4-2标准的静电试验环境
● 可以进行重复性较高的试验
● 具有多种用途，可以用于其他试验当中
ESS-801 （台式）
项目… 型号… 尺寸… 数量
试验桌… 03-00039A… (W)…1600x(H)800x…(D)…800mm… 1个
垂直耦合板… 03-00005A… (W)…500x(H)500x…(t)…1.5mm… 1块
参考接地板… 03-00007A… (W)…1800x(D)1000x…(t)…1.5mm… 3块
绝缘衬垫… 03-00004A… (W)…1450x(D)650x…(t)…0.5mm… 1张
放电电阻电缆… 05-00054B… 含470kΩ×2个 2m… 2根
水平耦合板… 03-00020A… (W)…1600x(D)800x…(t)…1.5mm… 1块
ESS-801GL （落地式）
项目… 型号… 尺寸… 数量
绝缘支座… 03-00024A… (W)…1200x(H)1200x…(t)…100mm… 1个
落地式垂直耦合板… 03-00034A… (W)…540x(H)1540x…(D)…500mm… 1块
参考接地板… 03-00007A… (W)…1800x(H)1000x…(t)…1.5mm… 3块
放电电阻电缆… 05-00054B… 含470kΩ×2个 2m… 1根
选件：
放电电阻……… MODEL : 详细如下所示
该产品为放电仪…TC-815R等所使用的放电电阻。
通过更换放电电阻，能够改变静电试验输出波形。
（非IEC标准产品）
该产品为放电仪…TC-815R等所使用的电容组件。
通过改变电容组件，可以改变静电试验输出波形。
ESS-801 ESS-801GL NOISEKEN测试仪 试验器
供应日本NOISEKEN
1 静电放电模拟试验器
ESS-S3011>-30R
ESS-B3011>-30R
ESS-2000AX
TC-815R放电仪
ESS-801/ESS-801GL试验环境
ZAP-1A自动放电系统
IEC61000-4-2Ed.2试验标准概要
2 半导体器件静电放电模拟试验器
ESS-6002/6008
3 高频噪声模拟试验器
INS-4020/4040
INS-AX2系列
高频噪声模拟试验概要
4 电快速瞬变脉冲群模拟试验器
FNS-AX3A16B/B50B
IEC61000-4-4Ed.2试验标准概要
5 雷击浪涌模拟试验器
LSS-6230
LSS-F02系列（IEC标准）
IEC61000-4-5Ed.2试验标准概要
LSS-720B（JEC标准）
JEC标准概要
6 电源电压变动模拟试验器
VDS-2002
VDS-1007/VDS-2007
VDS-230S/250S
IEC61000-4-11Ed.2试验标准概要
7 衰减振荡波模拟试验器
SWCS-931SD
SWCS-932/S4
8 PCB板电磁波解析系统/三坐标辐射测试系统
EPS-3007PCB板电磁波干扰源探查系统
EPS-6000
EPS-01A三坐标辐射测试系统
EPS-240
9 高频接触&近场电磁抗扰度测试天线
NHHA&NTS
