济南赛成电子科技有限公司
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高精度薄膜测厚仪赛成CHY-CA台式薄膜测厚仪硅片厚度测量仪在工业生产过程中，测厚仪的出现为很多人提供了工作上的便利，作为一种测量工具，测厚仪主要是用来对一些材料或物体的实际厚度进行测量，比如钢材，薄膜等
高精度薄膜测厚仪 赛成CHY-CA 台式薄膜测厚仪 硅片厚度测量仪
在工业生产过程中，测厚仪的出现为很多人提供了工作上的便利，作为一种测量工具，测厚仪主要是用来对一些材料或物体的实际厚度进行测量，比如钢材，薄膜等。
CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
测试范围 0 ~ 2 mm（常规）
0 ~ 6 mm；12 mm（可选）
分辨率 0.1 μm
测量压力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积 50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距 0 ~ 1000 mm
进样速度 0.1 ~ 99.9 mm/s
电源 AC 220 V 50 Hz
外形尺寸 461 mm (L) × 334 mm (W) × 357 mm (H)
净 重 25 kg
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