1.耐震电接点压力表PT-YTNXC-100耐震电接点压力表PT-YTNXC-100
产品简介：
PT-YTNXC-100、PT-YTNXC -150-Z耐震电接点压力表具有抗介质脉动和冲击载荷，耐环境振动等优异特性，适用测量对铜和铜合金无腐蚀性的气体，液体或蒸气等压力。仪表设上、下限二位开关型接点装置，在压力达到设定值时发出信号或通断控制电路，供作业系统自动控制或发讯用。其抗振结构可有效抑制指针的抖动、冲击，保护接点，使仪表指示清晰，电信号切换可靠，工作稳定。广泛应用于机械、化工、石油、冶金、电力等工业生产过程。
技术参数：
型号 | PT-YTNXC-100 |
测量上限MPa | -0.1-0.15;-0.1-0.3;-0.1-0.5;-0.1-0.9;-0.1-1.5;-0.1-2.4;0.1;0.16;0.25;0.4;0.6;1.0;1.6; 2.5;4;6;10;16;25;40;60 |
精度 | ±1.6 |
大工作压力 | 380VAC;220VDC |
起动电流 | 1A |
持续电流 | 0.6A |
大功率（无感负载） | 20VA 20W |
电缆连接器 | X14K4P |
使用工作温度：-25℃～55℃
工作压力上限：不大于仪表上限的2/3
工作环境振动频率不大于25Hz，振幅不大于0.5mm
仪表执行标准：Q/320211AuA02-2002
型 号 | 外 形 尺 寸 mm | |
D | D1 | D2 | D3 | A | B | E | C | d | d0 | M | |
PT-YTXC-100-Z | 100 | 110 | 93 | / | 44 | 32 | 11 | 24 | / | / | 20×1.5 |
PT-YTXC-100ZQ-Z | 100 | 136 | 93 | / | 44 | 30 | 4 | 34 | 118 | 5.5 | |
PT-YTXC-100TQ-Z | 100 | 136 | 93 | 106 | 44 | 30 | 4 | 24 | 118 | 5.5 | |
PT-YTXC-150-Z | 150 | 157 | 135 | / | 50 | 32 | 12 | 25 | / | / | |
PT-YTXC-150TQ-Z | 150 | 177 | 136 | 144 | 50 | 44 | 18 | 26 | 165 | 5.5 | |
2.四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率仪 型号：KDK-KDY-4
KDK-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：
1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。
数字电压表量程：0—199.9mV 灵敏度：100μV 输入阻抗：1000ΜΩ
基本误差±（0.4-0.5%读数+0.1%满度）
2、可测电阻率范围：10—3 —1.9×103Ω·cm。
可测方块电阻范围：10—2 —1.9×104Ω/□。
3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。
4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。
电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。
6、四探针头采用上*的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高
3.表面振动压实试验仪/振动压实试验仪/振动压实试验机 型号：HYL8-ZYC-2
本仪器是采用表面振动压实法测定无粘性自由排水粗粒土和巨粒土（包括堆石料）的大干密度的试验仪器。
1、电源电压：380V；
2、耗电功率：≤looow；
3、振动频率：47.5Hz；
4、激振力二2.5-4.2KN；
5、夯板作用在试样表面静压力：13、8Kpa；
6、试筒规格：铝制大筒一个内径280mm，铝制小筒一个内径152mm；
4.便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A
概述
便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
本仪器按照半导体材料电阻率的及国家标准测试方法有关规定设计。
它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。
为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。
测量范围：
可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可测方块电阻：0.1～1999Ω/口
当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档
10mA量程：0.1～1mA 连续可调
10mA量程：1mA ～10mA连续可调
恒流精度：各档均优于±0.1%
适合测量各种厚度的硅片
（3） 直流数字电压表
测量范围：0～199.9mv
灵敏度：100μv
准确度：0.2%（±2个字）
（4） 供电电源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用环境：
相对湿度≤80%
（6） 重量、体积
重量：2.2 公斤
体积：宽210×高100×深240（mm）
（7）KD探针头
压痕直径：30/50μm
间距：1.00mm
探针合力：8±1N
针材：TC
5.
四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1
四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品：“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。
2、主机技术能数
（1）测量范围：
可测电阻率：0.0001～19000Ω•cm
可测方块电阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流精度：各档均低于±0.05%
（3）直流数字电压表：
测量范围：0～199.99mV
灵敏度：10μV
基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）
输出电源：≥1000ΩM
（4）供电电源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用环境：
温度：23±2℃ 相对湿度：≤65%
无较强的电场干扰，无强光直接照射
（6）重量、体积：
主机重量：7.5kg
体积：365×380×160（单位：mm 长度×宽度×高度）
备注：
等级测量时（测电阻率），精度<3%
电气测量时（测电阻），精度在0.3%以内
备注：
仪器包括：主机一台；测试架（包括台面）一个；四探针头1个
温馨提示：以上产品资料和图片全都是按照顺序相对应的
