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四探针探头 探头GSZ-HP-501的说明书

时间:2016/11/22阅读:379
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四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
 

四探针探头   探头             型号:GSZ-HP-501


 

 

 

 

 

四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

 

◆ 特性及规格
 

1

 特制之手握式探笔

2

 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤

3

 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏

4

 探头使用寿命长

5

 探针间距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

GSZ-HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直线

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