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TM Electronics主机介绍-BT Integra 爆破仪

阅读:9发布时间:2025-1-23

TM Electronics主机介绍-BT Integra 爆破仪

TME BT Integra 是一款台式,高分辨率(0.001 psig)测试仪器,占地面积小,操作简便。电子压力和流量控制可提供精确和可重复的测试条件,而自动和高流量输出可用于大型多孔包装的测试。应用范围包括各种柔性或刚性,多孔和无孔,开放或密封包装。

l   开箱即用的爆破测试模式:此设备使用内建参数提供开箱即用的自动爆破测试,因此将要进行爆破测试的配件连接后,操作员只需按一个按钮即可完成测试。

l   自动或手动参数定义:智能BT Integra-Pack可以在自动模式下测试任何包装,而无需输入测试参数,且不仅如此,手动模式下,使用户可以输入像是斜坡率控制(ramp rate control)和回压下降灵敏度(back   pressure drop sensitivity)之类的参数。这样可以测试特殊样品,或执行特定研究和数据收集活动。

l   图标的触摸式彩色显示器:触摸彩色显示屏可在各种数据处理和查看屏幕中提供轻松清晰的指示。简单的图标使您可以轻松选择测试模式,从自动测试设置更改为手动测试设置,以数字和图形格式查看测试结果以及安全地进行操作和处理测试数据记录。

BT Integra是一个集合各种模式的过程控制工具,不仅在测试时有价值,而且还能够将数据从过程控制传输到质量部门,也使其成为质量控制工具。其目的是使您能够生产与随附产品有更佳的品质。

测试分类(一台多用途)

说明

爆破测试

Burst   Test

以均匀的速率使包装膨胀至密封件在其最弱点处分离来确定包装密封件的最小密封强度。密封分离时的压力是爆破压力。

蠕变测试

Creep   Test

将包装充气至恒定压力并在该压力下保持的时间。如果密封在测试期间没有打开,则通过。如果密封在测试期间打开,则失败。

蠕变至破裂

Creep   to Failure

是一种类似于蠕变测试的压力保持测试。测试期间,包装被加压至设定压力,通常高于试验压力,并保持在该压力下直至密封剥离。

泄漏测试

Leak   Test

此系统进行泄漏测试仅是压力感测,当被测产品连接至前端测试口时,内部阀门将允许空气(或其他气体)对零件加压并将连接至传感器。从被测部件的泄漏中检测到压力变化低至0.001   psi



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