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TM Electronics应用介绍-密封包装袋的非破坏泄漏测试

阅读:12发布时间:2025-1-23

TM Electronics应用介绍-密封包装袋的非破坏泄漏测试

过去我们想测试饼干袋是否有破洞导致漏气;或是医疗的无菌袋是否不完整导致微生物进入;甚至电子产品是否真的防水,都需要将这些产品压入水面下,在一定的水压下看是否有泡泡出现,一旦出现泡泡有两件事情可以证实,您的产品不合格,可能导致内容物泄漏,环境污染,无菌性丧失或组件故障,第二你的产品报废了,公司成本将随之提高许多。本内容就推荐一台使用气压充填方式,让您可以在产品完好无缺下,又能更客观的观察是否有漏气或破洞的高解析度(0.0001 Psi)仪器- TM Electronics测漏仪。

今日,将特别针对您的产品是已经密封或是真空包装,如磨碎咖啡粉密封在铝箔纸包装中、蜜饯糖果的塑料包装或是胶囊的医药铝箔泡罩,由于这种包装过程,在包装内部没有顶部空间(Head space,空气或气体空间)来促进真空衰减测试,因此设计了压力衰减腔室来测试,如图。TME泄漏测试系统由压力衰减腔室和TME压力衰减泄漏测试仪组成。该设计用于检测产品放置于内腔室内产生压差时的漏气。如果将来自腔室的压缩空气压入真空包装的产品中,则测试腔内压力的下降表明存在泄漏。



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