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土壤光谱仪、手持贵金属元素分析仪、德国土壤贵金属分析仪

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更新时间:2021-11-27 10:50:21浏览次数:223次

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产品简介

主要特性: 简体中文界面Windows5.0操作系统开机后不需校准就可直接测量采用布鲁克技术的XFlash®SDD检测器分析元素最小从Mg开始,达40多种

详细介绍

主要特性:

简体中文界面

Windows 5.0操作系统

开机后不需校准就可直接测量

采用布鲁克技术的XFlash®SDD检测器

分析元素最小从Mg开始,达40多种。

分析范围:ppm级至50以上

实时分析数据和图谱显示

XRF软件具有定性、定量分析功能,控制光管的电压和电流,使测量范围更广

测量*无损,不受样品形状限制

仪器自动校准,自动存储测量数据,无需人工干预

主机一体化设计,高强度密封,防水、防尘,抗冲击

可选择一键式定时测量

内置Bruker专业操作软件,计算和显示速度快

仪器适应高温,低温,潮湿,雨天、沙尘等恶劣环境

在开机状态下长时间不测量时,仪器会自动进入待机状态,以节省电源和保护仪器

X射线管耐用性强,采用Peltier半导体恒温制冷技术更增加了使用寿命

选配GPS定位系统,可精确定位矿体位置并绘制矿脉分布图

FP模式,大大缩短现场工作时间。自动补偿元素间干扰。



野外操作时,自由携带,非常方便

技术规格

重量

1.5kg

尺寸30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H)
激发源X射线管,Ag靶,40kV
检测器

XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快;

能量分辨率高:145eV, 计数率:250kcps

冷却系统Peltier半导体冷却系统
电源交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时
工作条件温度:-20+55 湿度:095
电池充电器交流充电器:110/220V,50/60Hz

计算机/显示器

240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
数据传输USB,无线蓝牙,SD卡
数据存储

主机:512MB

存储卡:CF/SD卡,2GB,能存储几十万个光谱图谱和测量数据

热表面适配器热表面适配器,可测量500高温样品
安全密码保护,设有多级安全锁
运输箱减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言包括中、英文在内12种语言(用户自选)

质保期

整机2年,终身维护、保养、维修

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