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斜探头的一种特殊类型，将斜探头分成斜块、探头芯两个部分，使用时将两者组合起来。进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插...
斜探头的一种特殊类型，将斜探头分成斜块、探头芯两个部分，使用时将两者组合起来。进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插...
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斜探头的一种特殊类型，将斜探头分成斜块、探头芯两个部分，使用时将两者组合起来。进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插...
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斜探头的一种特殊类型，将斜探头分成斜块、探头芯两个部分，使用时将两者组合起来。进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插...
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斜探头的一种特殊类型，将斜探头分成斜块、探头芯两个部分，使用时将两者组合起来。进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插...
斜探头的一种特殊类型，将斜探头分成斜块、探头芯两个部分，使用时将两者组合起来。进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插...
可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从 0度到 90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。
可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从 0度到 90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。
可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从 0度到 90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。
可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从 0度到 90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。
用于陶瓷绝缘子的超声波检测。双晶并列式爬波探头，使用爬波检测支柱绝缘子、瓷套与法兰的结合部位是否存在裂缝等缺陷；小角度探头使用小角度纵波检测支柱绝缘子内部是否存...
用于陶瓷绝缘子的超声波检测。双晶并列式爬波探头，使用爬波检测支柱绝缘子、瓷套与法兰的结合部位是否存在裂缝等缺陷；小角度探头使用小角度纵波检测支柱绝缘子内部是否存...
用于陶瓷绝缘子的超声波检测。双晶并列式爬波探头，使用爬波检测支柱绝缘子、瓷套与法兰的结合部位是否存在裂缝等缺陷；小角度探头使用小角度纵波检测支柱绝缘子内部是否存...
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