金属镀层厚度分析仪DX-520L工作原理
X射线光谱方法测定金属镀层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
Think600金属镀层厚度分析仪是集德谱仪器多年镀层测厚检测技术和经验，以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。
DX-520L性能规格：
【型号】： DX-320L
【测试对像】： 粉未、固体、液体
【元素分析范围】： 钠（Na）－铀（U）
【同时zui多可测元素】： 36种
【含量分析范围】： 1ppm～99.99%
【工作稳定性】： 总荧光强度为0.1％
【测试时间】： 60～200秒
【探测器分辨率】： 139eV±5
【多道分析器】： 2048道
【X射线光管】： 功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo
【高压电源】： 电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05%
【外型尺寸】： 660mm×500mm×330mm
【测量仓】： 450mm×350mm×100mm
【重量】： 62Kg
【zui低检出限】： Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm
镀层技术参数：
【可测镀层数】： zui多可达5层
【镀层种类】： 单金属镀层、合金镀层
【镀层识别精度】： 分析检出限可达2ppm，zui薄可测试0.005μm。
【厚度测试范围】： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um
DX-520L应用领域：
广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业
DX-520L使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。
