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SC-E型大米外观品质检测分析仪
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更新时间:2021-06-10 11:20:04浏览次数:16

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【简单介绍】
SC-E型大米外观品质检测分析仪
【详细说明】

SC-E型大米外观品质检测分析仪

用途:用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

 SC-E型大米外观品质检测分析仪

SC-E型大米外观品质检测分析仪

环境条件:温度10~30℃,相对湿度≤85%,防止强光照射。仪器应放在平稳工作台上,周围无强烈的机械振动和电磁干扰;电源要求220V±10%,50Hz。

特点:

  • 配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透扫幅面30 cm×20 cm,最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
  • 可自动一次性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、可直接检测大米透明度的国标等级(国家发明号ZL 2013 1 0172280.X)、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的裂纹率,糙米胚芽率。
  • 具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。
  • 具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒范围0.25-20mm,自动数粒精度≥99%,交互修正后准确率达。
  • 自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。
  • 可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354-2018大米、新标准【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分类判定LS/T6116-2016、粮食行业标准 大米LS/T 3247—2017、GBT35881-2018粮油检验 稻谷黄粒米含量测定,图像分析法等标准相对应,检测各项指标的质量比和粒数比。
  • 各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图,以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。

系统组成:

  • Microtek ScanMaker i800 plus双光源扫描仪 1台
  • 快速铺米器 1台
  • 软件光盘1张,软件锁1只
  • 电脑(电脑另配)。

选配电脑推荐:品牌电脑(酷睿i5 CPU / 8G内存/ 19.5"彩显/无线网卡,5个以上USB2.0口,运行环境Windows 10完整专业版或旗舰版)

产地:中国



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