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| 产地 | 进口 | 加工定制 | 否 |
|---|
SM-114LW 表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐
型号：SM-114LW
测量范围：0〜10mm
最小刻度：0.01mm
测头：上、下均为3.2mm球形测头
主要用于测量镜片凹凸处的最大厚度
表盘式厚度表 测头：
表盘式厚度表 规格：
型号 | 最小刻度 | 测量范围 | 精度 | 平面度 | 表盘刻度 | 测量力 | 上测头 | 下测头 | 重量 | 测头参考图片 |
SM-114 | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 10平测头 | φ 10平测头 | 270 | 标准型 |
SM-114LS | 0.01 | 10 | ±15 | ー | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 3.2球测头 | φ 10平测头 | 270 | LS |
SM-114LW | 0.01 | 10 | ±15 | ー | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 3.2球测头 | φ 3.2球测头 | 270 | LW |
SM-114P | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-0.5-1 | 2.5N以下 | φ 10平测头 | φ 10平测头 | 270 | 标准型 |
型号 | 最小刻度 | 测量范围 | 精度 | 平面度 | 表盘刻度 | 测量力 | 上测头 | 下测头 | 重量 | 测头参考图片 |
SM-124 | 0.01 | 20 | ±20 | 5 | 0-50-100 | 3.5N以下 | φ 10平测头 | φ 10平测头 | 270 | 标准型 |
SM-124LS | 0.01 | 20 | ±20 | ー | 0-50-100 | 3.5N以下 | φ 3.2球测头 | φ 10平测头 | 270 | LS |
SM-124LW | 0.01 | 20 | ±20 | ー | 0-50-100 | 3.5N以下 | φ 3.2球测头 | φ 3.2球测头 | 270 | LW |
表盘式厚度表 别名：
表盘式厚度计、手握式厚度表、厚薄表、测厚计
表盘式厚度表 产品说明：
小刻度有0.01和0.001两种。
测量厚度可达50mm
部分量表采用陶瓷测头，与工作接触面为陶瓷，可延长使用寿命。另外，还有FE（材质为加硬SK4）和AT（材质为特殊镀层）可供选择。
根据测头的形状不同，可分为标准型和其它型，
标准型的测量力不超过2.5N，同时也可选用低测量力0.4N
SM-114LW 金属圆测头，测头尺寸¢3.2mm，用于测量金属片及不规则产品
表盘式厚度表 用途：
应用广泛，可测量纸张、头发、橡胶板、金属管、珍珠等的厚度。
SM-114LW 表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐
表盘式厚度表 实物照片：
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