滤料测试仪GMFP 4000:
滤料测试仪GMFP 4000用于根据DIN EN 1822-3和ISO 29463-3标准，测量HEPA和ULPA过滤介质的除尘效率。
GU-SMPS型号的现代纳米颗粒测量装置用于范围在5nm-2μm的粒径测量和数量分析。
通过本设备和UF-CPC浓度颗粒计数器，对原始气体和清洁气体中颗粒在粒径范围的除尘效率进行实时测量。
设备部件:
多种气溶胶发尘器-UGF 2000发尘器用于/氯化钠或DEHS ，集成Nafion干燥系统 。气溶胶产生的体积流量通过质量流量控制器独立调节。
气溶胶中和装置-Kr-85-370或XRC 370。
可移动气动式过滤夹具-用于测试台移除和装载。U-SMPS中DEMC 2000微分电迁移率的分类器区分UGF-2000产生的多分散式气溶胶的粒径。DEMC 2000下游只含有单分散颗粒。其他粒径由DEMC 2000控制装置自动调节。
UF-CPC 200高浓度颗粒计数器-用于测量原始高浓度气体颗粒数量分布，单次计数模式可测量颗粒浓度高达2000000 颗粒/cm3 ，无需稀释系统和系统清洁。
UF-CPC 200高浓度颗粒计数器-用于测量清洁低浓度气体颗粒数量分布，单次计数模式可测量颗粒浓度高达10000 颗粒/cm3 。
测量优势：
通过测量原始和清洁气体的颗粒浓度，测量分级除尘效率的测量时间缩短一半。
组合2种UF-CPC，UF-CPC 200用于高浓度原始气体测量高达2000000 颗粒/cm3 （单次计数模式），UF-CPC 50用于低浓度清洁气体测量，相当于1:200的稀释比例，不在需要传统的气溶胶稀释方式。
产品优点:
分级除尘效率实时测量高于10nm
通过测量原始和清洁气体的颗粒浓度，测量分级除尘效率的测量时间缩短一半
无需稀释
组合2种UF-CPC，UF-CPC 200用于高浓度原始气体测量高达2000000 颗粒/cm3 （单次计数模式），UF-CPC 50用于低浓度清洁气体测量，相当于1:200的稀释率
国际标准测量结果，符合DIN EN 1822-3 和ISO 29463-3
可使用不同气溶胶，NaCl / KCl 或DEHS （如有要求和提供其他气溶胶）
分级除尘效率测量简单，可测量MPPS范围
测试方法高度可再现性
灵活的过滤测试软件FTControl
操作简单，未经培训的人员也可经指导快速使用该设备
设置时间短，操作速度快
清洁可由客户自行操作
测量技术组件使用简单
移动设置，便于脚轮移动
在预交付验收测试和交付时，各组件和整个系统功能完好
功能可靠
低维护
该设备可降低运营成本
技术参数:
测量范围（粒径）:U-SMPS 2050: 10 - 800 nm
容积流量:0.54 - 16 m?/h (pressurized operation)
电源:115/230 V, 50/60 Hz
尺寸:Approx. 600 ? 1800 ? 900 mm (W ? H ? D)
流入速度:1.5 - 40 cm/s (others on request)
压差测量:0 - 2500 Pa (others on request)
介质测试面积:100 cm?
气溶胶:尘埃（如SAE尘埃），盐（如NaCl, KCl ），液体气溶胶（如DEHS）
压缩供应气体:6 - 8 barg
