轻微影响涂层测厚仪的精度因素_有关说明及技术交流

轻微影响涂层测厚仪的精度因素_有关说明

轻微影响涂层测厚仪的精度因素_有关说明

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

3、基体金属厚度

每一种涂层测厚仪有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

4、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

5、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

6、试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

7、表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量涂层测厚仪时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

8、附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

9、测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

10、测头的取向

涂层测厚仪测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

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涂层测厚仪/

镀层测厚仪/shgtyq021-SonList-860564/

　　超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射试验方法来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此试验方法测量。　　超声波测厚仪每一种技术都有优点和缺点，对一个特定的应用都应该考虑选择哪一种方法：　　超声波测厚仪透过涂层测量优点：　　1、能测量多种金属厚度，具代表性的，在钢中能从1mm到50mm　　2、只需要一个回波　　3、在点蚀情况能更精确地测量剩余地*小厚度　　透过涂层测量缺点：　　1、涂层*薄为0.125mm　　2、涂层表面应当比较光滑　　3、需要使用2种特定探头中地一个4，表面温度大约为50℃或51.67℃　　回波——回波测量优点：　　1、可使用多种普通探头工作　　2、常能穿透粗糙表面涂层工作　　3、用适当的探头能在接近500℃或498.89℃的高温时工作　　回波——回波测量缺点：　　1、需要多次底面回波，在严重腐蚀的金属中可能不存在多次底面回波　　2、厚度范围比透过涂层测量限制更多。