仪器概述GY-MARS/T 3600型 贵金属分析仪是贵金属分析仪中的中产品。可实现贵金属、镀层检测，符合新国标GB18043-2013。该产品可应用于银行、技术监督部门、进出口检疫、金厂等众多行业。
仪器采用了电制冷SI-PIN半导体探测器，分辨率为149eV。能更好地检测被测物中的各种元素，降低元素间的干扰，有效测量黄金、铂金中的铱含量。 6mm
2的探测面积，具有优秀的点对点测量能力，避免焊点等影响测量结果的因素。配合来自美国的第五代I型数字信号处理器，分析速度和系统处理能力得到显著提高，计数率可达200万，测试稳定性和准确性比以往提高了2倍
仪器特性
1. 符合*饰新标准GB18043-2013。
2. 操作简便，测量时间短，不需要辅助材料，不需损毁样品。
3. 全封闭式金属机箱及防泄漏保护设计，更好地保障操作员的人身安全。
4. 精确的样品成像准直系统，实现对样品的准确点测。
5. 的数据分析方法，使测量结果更加精确。
6. 打印机可连续打印测量报告。
7. 具备高含量精密分析模式。可对99.9%（千足金）、99.99%进行有效分析。
8. 自定义工作曲线，可分析多种镀层厚度。
9. 采用来自美国的*的电制冷SI-PIN半导体探测器，探测面积6mm2，具有优秀的点对点测量能力，分辨率可达149eV，远优于国标GB18043-2008。因此大大降低了元素间的干扰，可准确检测铂金含铱、黄金含铱等复杂成分样品，防止购回业务中产生误判带来经济损失。
10. 采用来自美国的第五代I型数字信号处理器，数据的稳定性和准确性远高于国内同类产品。
11. 采用来自美国的高压电源，配合原厂的数字控制板，稳定性远高于国内同类产品。
12. 我公司专业设计的X光管保养程序，能有效延长X光管寿命，降低用户使用成本。
13. 高分辨率图谱即时显示，由不同色块加以判断区分，清晰明了，易于判别。
仪器技术指标
1. 外壳尺寸：630×445×400（mm）
2. 测量仓尺寸：360×260×145（mm）
3. 重量：约50kg
4. 适宜温度：10—28℃ 相对湿度：≤80%
5. 元素分析范围：硫(S)到铀(U)
6. 含量分析范围：1ppm—99.99%
7. 测量精度： ≤0.15％（足金以上精度≤0.1％）
8. 测量时间：100-300 s
9. 分辨率：149evFWHM@5.9keV
10. 探测器类型：电制冷SI-PIN半导体探测器
11. 信号处理器：美国原产第五代I型数字信号处理
12. 电源：交流220v±5v或110v±5v 频率：47-63 HZ
