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GY-MARS/T6600 X射线荧光光谱分析仪（新）

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更新时间：2022-03-10 14:48:41浏览次数：285次

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产品简介

GY-MARS/T6600X射线荧光光谱分析仪（新）仪器概述GY-MARS/T6600型贵金属分析仪是贵金属分析仪中的产品

详细介绍

GY-MARS/T6600 X射线荧光光谱分析仪（新）

仪器概述
GY-MARS/T 6600型贵金属分析仪是贵金属分析仪中的产品。可实现贵金属、镀层、表面均匀度检测，符合新国标GB18043-2013。该产品可应用于银行、技术监督部门、进出口检疫、大型黄金企业等众多行业。

仪器采用了电制冷SI-PIN半导体探测器，分辨率为149eV。能很好地检测被测物中的各种元素，降低元素间的干扰，有效测量黄金、铂金中的铱含量。 6mm²的探测面积，具有优秀的点对点测量能力。配合来自美国的的第五代II型数字信号处理器，分析速度和系统处理能力在第五代I型处理器基础上进一步提高，计数率可达400万，测试稳定性和准确性比第五代I型处理器提高1倍。
产品特点：
1. 符合*饰新标准GB18043-2013。

2. 操作简便，测量时间短，不需要辅助材料，不需损毁样品。
3. 全封闭式金属机箱及防泄漏保护设计，更好地保障操作员的人身安全。
4. 精确的样品成像准直系统，实现对样品的准确点测。
5. 的数据分析方法，使测量结果更加精确。
6. 打印机可连续打印测量报告。
7. 自定义工作曲线，可分析多种镀层厚度。
8. 采用来自美国的*的电制冷SI-PIN半导体探测器，探测面积6mm²，具有优秀的点对点测量能力。分辨率可达149eV，远优于国标GB18043-2008。因此大大降低了元素间的干扰，可准确检测铂金含铱、黄金含铱等复杂成分样品，防止购回业务中产生误判带来经济损失。
9. 采用来自美国的高压电源，配合原厂的数字控制板，稳定性远远高于国内同类产品。
10. 高分辨率图谱即时显示，由不同色块加以判断区分，清晰明了，易于判别。
11. 水冷X光管配合光管保养程序，散热更好，有效延长X光管寿命，降低用户使用成本。
12. 采用来自美国的第五代II型数字信号处理器，数据的稳定性和准确性比第五代I型处理器提高1倍，技术水平。
13. 多样品多点测量系统采用全自动数控精密位移样品台，配合我公司多年研发的专用软件，操作简单，定位精确。可进行多样品多点连续测量及均匀度、分布梯度分析，节省时间，优化工作流程，避免不均匀带来的测量误差。
具备高含量精密分析模式，可对99.9%（千足金）到99.999%进行有效分析。

技术指标：
1．外型尺寸：710×540×435（mm）
2．样品仓尺寸：400×340×150 ( mm )
3．重量：59kg
4．工作环境温度：10—28℃
5．工作环境相对湿度：≤80%
6．元素分析范围：硫(S)到铀(U)
7．含量分析范围：1ppm—99.99%
8． 分析精度： 0.01%-0.1%（足金以上精度≤0.05％）
9．测量时间：100-300s (推荐)
10．分辨率：149eV FWHM @ 5.9keV
11．电源：AC100—240（V）
12．电源频率：47—63（Hz）
13．探测器类型：电制冷SI-PIN半导体探测器
14．信号处理器：美国原产第五代II型数字信号处理