当前位置：烟台日特测量仪器有限公司>>电子电器仪器>>电子电器仪器>> 日本电色工业株式会社NIPPON DENSHOKU 高精度分光色度仪SD7000
1. 5nm光谱间隔测定
最小波长间隔5nm，符合ISO,ASTM以及JIS标准，
依靠高精度光谱分离单元和256elements图像传感器来完成小间隔光谱测定。
2. 储存设计
利用专用色彩软件通过电脑实施操作，数据准确可靠且易存储。
3. SCI/SCE测定
SCI（包括镜面光泽）
SCE（不包括镜面光泽）
可适合测定需要或不需要镜面光泽的样品，如有反光或高金属光泽的物体。
4. 显著的稳定性
该仪器安装了强光照明的闪光氙灯，稳定了光谱特征，所以测定有很好的稳定性。
5. 能见度测试室，两种类型门设计（可选择）
设计两种类型门，可以测定大样品或者小样品，可以测定超大样品而不需剪裁，操作时间也可以保存。
6. 色度管理软件
色度管理软件在分析色度数据方面有很大的优越性，数据以表格的形式显示出来，方便查看和编辑。
测定方式 | 可进行反射和透射测定，SCI（包括镜面光泽），SCE（不包括镜面光泽）和是否包含UV测定 |
照明/受光条件 | 积分球（150mmφ） 反射率测定：扩散照明/8°受光（d/8、D/8切换方式） 透过率测定：扩散照明/0°受光（D/0方式） 可进行SCI（包括镜面光泽）/SCE（不包括镜面光泽）自动切换的测定 也可进行分光测定（后分光方式）和是否包含UV的测定 |
测定方式 | 双光束测定法（测定光，参照光）和全波长光束同时补偿测定法 |
测试直径 | 反射测量φ6.4mm、φ12.7mm、φ25.4mm、透射测量φ25mm |
测定范围 | 380nm～780nm 5nm间隔测量 |
测定间隔 | 5nm |
受光元件 | CMOS线性图像传感器（256像素点） |
分光单元 | 衍射光栅 |
测定精度 | 在常温常湿条件下，开机预热20分钟后；以10秒的间隔连续测量30次，⊿E*重复性在0.03以内，分光光谱曲线重复性在0.1以内。 |
测定用时 | 3秒以内 |
测定使用光源 | D65、C、A、F6、F8、F10，视角有2°和10°视角 |
显示项目 | L*a*b* E*、⊿L*a*b*E 、LabE、⊿LabE、XYZ、 Yxy、YI、WI、WB、⊿YI、⊿WI、⊿WB、L*C*H*、⊿L*C*H*、CMC2:1、 CMC1:1、E94、LCH、HVC、APHA、Gardner分光反射率曲线、分光光谱曲线、偏色判定图和各种色系图等等 |
标准数据设定 | XYZ,L*a*b*，分光光谱反射率 |
光源 | 长寿命闪光氙灯 |
重量 | 约14kg |
电源 | 100V-240V AC，50/60Hz |
尺寸 | 316.4mmW×462.4mmD×251.4mmH |
标准 | 符合 JIS Z 8722，ASTM E 308， ASTM E 313，ISO7724,DIN 5033,ASTM D 2244 |
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