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长余辉荧光材料光变特性测试系统原理

时间:2022/3/25阅读:238
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本系统是为了测量长余辉荧光材料光变特性而,设计的。系统可在计算机控制下对样品进行自动测量。
,指标:
光度计:
测量范围:0-19.99cd/m2
,分辨:10-5 cd/m2V(λ)
匹配误差:f1≤ 8%精度:±4%±1字
光  源:另购选配
电动快门:由计算机控制,开启时间可设定。
照度监测用照度计:31/2 位显示器V(λ)
匹配误差:f1≤5%
精度±4%±1字
光度计及光源用电源:AC220±20V,50HZ
使用环境:温度20±15℃湿度≤85%RH


本系统是为了测量长余辉荧光材料光变特性而,设计的。系统可在计算机控制下对样品进行自动测量。
,指标:
光度计:
测量范围:0-19.99cd/m2
,分辨:10-5 cd/m2V(λ)
匹配误差:f1≤ 8%精度:±4%±1字
光  源:另购选配
电动快门:由计算机控制,开启时间可设定。
照度监测用照度计:31/2 位显示器V(λ)
匹配误差:f1≤5%
精度±4%±1字
光度计及光源用电源:AC220±20V,50HZ
使用环境:温度20±15℃湿度≤85%RH

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