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导电微晶模拟静电场描绘实验仪原理

时间:2024/10/8阅读:296
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该静电场描绘实验仪(包括导电微晶、双层固定支架、同步探针等),支架采用双层式结构,上层放记录纸,下层放导电微晶。电极已直接制作在导电微晶上,并将电极引线接出到外接线柱上,电极间制作有导电率,小于电极且向均匀的导电介质。接通直流电源(10V)可以进行实验。在导电微晶和记录纸上方有一探针,通过金属探针臂把两探针固定在同一手柄座上,两探终保持在同一铅垂线上。移动手柄座时,两探针的运动轨迹是一样的。由导电微晶上方的探针找到待测点后,按一下记录纸上方的探针,在记录纸上留下一个对应的标记。移动同步探针在导电微晶上找出若干电位相同的点,由此即可描绘出等位线。
实验目的:
1.学习用模拟方法来测绘具有相同数学形式的物理场;
2.描绘出分布曲线及场量的分布特点;
3.加深对物理场概念的理解;
4.初步学会用模拟法测量和研究二维静电场。
规格参数:
为双层支架同步探针,内置四种电板(同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形或飞机机翼电场)。
规格为410mm*240mm,高100mm,K4-2导线。
微晶导电层的均匀性,实验值误差为小于2%。
电源输出范围(直流)为7.00v-13.00V,分辨率为0.01V。
采用多圈电位器调节电压,调节分辨率0.01V。

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