超声波良导体材料厚度测量仪 返回列表页

超

型号AODBS-TT100

超声波良导体材料厚度测量仪超声波良导体材料厚度测量仪详细说明

原理：超声波测量厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。时代超声波测量厚仪系列是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器，采用微电脑对数据时行分析、处理、显示，采用高度优化的测量电路，具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。可以对各种板材和加工零件作精确测量，广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。BXS10-TT100超声波测厚仪是BXS10-TT100系列测厚仪的基本型，该仪器利用超声波原理可以对任何超声波良导体材料厚度进行测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。BXS10-TT100A超声波测厚仪在BXS10-TT100基础上增加了背光功能，适合在光线不好的环境中进行测量。

1、自动校对零点：可对系统误差进行修正；；

2、耦合提示、低电压提示、自动关机（无操作三分钟后）等功能；

3、声速调节：可利用已知厚度试块测量声速；

4、数据存储：可以存储10个厚度值和5个声速值；

5、BXS10-TT100A具有背光功能，适合在光线不好的环境中进行测量。

性能

BXS10-TT100/ BXS10-TT100A

测量范围0.8—300mm（钢，由探头决定）

显示分辨率0.1mm

超声波良导体材料厚度测量仪声速范围1000—9999m/s

工件表面温度-10~+60

显示四位液晶显示

声波良导体材料厚度测量仪