当前位置：北京爱欧德仪器设备有限公司>>分析检测>>测试仪>> AODJ-LT-2硅单晶多晶磷检棒寿命测量仪
| 产地 | 国产 | 加工定制 | 是 |
|---|
硅单晶多晶磷检棒寿命测量仪型号AODJ-LT-2
JC03-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
本仪器根据通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。
硅单晶多晶磷检棒寿命测量仪技 术 指 标：
测试单晶电阻率范围>2Ω.cm
可测单晶少子寿命范围5μS～7000μS
配备光源类型波长：1.09μm；余辉<1μS；
闪光频率为：20～30次／秒；
硅单晶多晶磷检棒寿命测量仪闪光频率为：20～30次／秒；
高频振荡源用石英谐振器，振荡频率：30MHz
前置放大器放大倍数约25，频宽2Hz-1MHz
仪器测量重复误差<±20％
测量方式采用对标准曲线读数方式
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
仪表网