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| 产地 | 国产 | 加工定制 | 是 |
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集成电路芯片电参数设备检测仪
型号AODD-ST-102B
DL19-ST-102B型探针测试台（英文叫Proberstation,中文又称中测台,点测机。)、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。
集成电路芯片电参数设备检测仪技 术 指 标：
工作台面370mm*245mm
载物台直径4"
光学参数总放大率：21-135倍；手轮调焦范围：60mm；升降调焦范围：200mm；
精密旋转台粗调范围：360°；微调范围：±10°；Z小刻划：1°；
铜盘直径：Φ85mm；绝缘盘直径：Φ102mm
集成电路芯片电参数设备检测仪三维探针座探针座X、Y、Z方向调节范围：±3.25mm，分辨率±2μ；
三维探针座在工作台面可任意位置固定，由磁性开关控制；
Z多可布三维探针座6个；
探针臂伸出长度：60mm；
探针长度：40mm；
探针探针材质硬质合金，针尖曲率半径2μm；
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