同位素质谱仪定位于满足世界上zui的科学家和技术人员，提供同位素质谱应用方面，zui和切合实际的解决方案。同位素质谱仪在元素分析，气相色谱和顶空气体分析方面有着显著优势，能在任何应用领域提供zui的性能表现。同位素质谱仪是地质科学，环境科学，医学和食品认证等领域专家的。

　　同位素质谱仪具有全新的放大器技术，为极小信号离子束（例如 m/z 47、48 和 49）和极低丰度样品提供了强大技术支撑，特别适用于二元同位素分析。同位素质谱仪新型的接收器排布，使得在zui高强度的离子源负载下，也可有效降低散射离子背景；同时采用半质量检测器定位，进行基线监测。同位素质谱仪新型的磁铁设计，改善了峰形和稳定性的同时，也确保了极低信号强度下的长积分时间和zui高分析精度。同位素质谱仪全新内置的 LIDI（长积分双路进样）工作流程，使得样品利用率提高 3 倍， 样品量降低 3 倍，同位素质谱仪更节省测量时间，保证了*的高精度。

　　同位素质谱仪的用法：

　　分离和检测不同同位素的仪器。同位素质谱仪的主要装置放在真空中。将物质气化、电离成离子束，经电压加速和聚焦，然后通过磁场电场区，不同质量的离子受到磁场电场的偏转不同，聚焦在不同的位置，从而获得不同同位素的质量谱。质谱方法zui早于1913年由J.J.汤姆孙确定，以后经 F.W.阿斯顿等人改进完善。同位素质谱仪经过不断改进，仍然利用电磁学原理，使离子束按荷质比分离。同位素质谱仪的性能指标是它的分辨率，如果同位素质谱仪恰能分辨质量m和m+Δm，分辨率定义为m/Δm。同位素质谱仪的分辨率达 105 ~106 量级，可测量原子质量到小数点后7位数字。

　　同位素质谱仪zui重要的应用是分离同位素并测定它们的原子质量及相对丰度。测定原子质量的精度超过化学测量方法，大约2/3以上的原子的质量是用质谱方法测定的。由于质量和能量的当量关系，由此可得到有关核结构与核结合能的知识。对于可通过矿石中提取的放射性衰变产物元素的分析测量，可确定矿石的地质年代。同位素质谱仪还可用于有机化学分析，特别是微量杂质分析，测量分子的分子量，为确定化合物的分子式和分子结构提供可靠的依据。由于化合物有着像指纹一样的*质谱，同位素质谱仪在工业生产中也得到广泛应用。