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CX-118A晶振测试仪一、主要功能:频率自校、频率测量、PPm测量、周期测量、数据累计、功能设定二、主要技术指标:频率测量范围:0.1Hz—100MHz频率测量灵敏度:30mvPPm测量:3KHz—100MHzPPm测量:≤1PPm(1×10-6)(可扩展0.1PPm
CX-118A晶振测试仪
一 、主要功能: 频率自校、频率测量、PPm测量、周期测量、数据累计、功能设定
二、主要技术指标:
频率测量范围: 0.1Hz — 100MHz
频率测量灵敏度:30mv
PPm测量:3KHz — 100MHz
PPm测量:≤1 PPm (1×10-6)
(可扩展0.1PPm , 0.01 PPm)
中心频率:0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定:± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设置:四档 ,0.01s、 0.1s、1s三档固定,
1档闸门1ms — 10s可设,
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围:100 ms — 10 s
晶振稳定性:5 ×10-7 / 日
(可选 1 ×10-7/ 日,1 ×10-8 / 日)
时基频率:OCXO--10MC
三、特点:
微机控制,可编程器件开发, 模块化设计
100MHz同步等测量方式
SMT贴装生产、工艺,全新小型化结构设计
9位LED显示
PPm提示功能
四、可选配:
晶体测量匹配器:32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .
注:仪器配置
CX-117A晶体测试仪/PPm 1台
连接电缆 2 根
电源线 1根
匹配器32.768KHz ~ 20MHz 1个
保险丝 2个
说明书 1份
合格证 1个
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