硅漂移探测系统SDD-数据采集器 返回列表页

7元的SDD X射线探测器系统
高计数率、高灵敏度和DSP处理

xsdd50系列为一体化系统，有探测器（在材料场分析中需要用x射线吸收显微组织的测量）、数据采集板和电源。它用高灵敏度多SDD探测器计实现了高计数率和能量分辨率。此外，可以通过晶体管复位和DSP处理来测量高计数率。

●单元面积：455mm² (65ｍｍ² ｘ 7elements)
●有效面积：350mm² (65mm² Collimated to 50mm² x 7 elements)
●功能：Histogram, List, Waveform, ROI-SCA
●ADC：4通道 100Msps 14bit
●能力分辨率：244eV@5.9keV MnKα Peakingtime 0.25μs,1000kOCR
●硅漂移探测器电源：-200V,±5V, +3.3V
●接口：网口Ethernet (TCP/IP)

适合同步辐射装置中的应用，该产品已成功应用于

SPring-8、KEK、SAGA Light Source、Aichi Synchrotron Radiation Center等

400kICR 185eV@5.9keV 0.25μs 高峰时间