老化测试柜 返回列表页

产品特点:

支持SATAⅠ/Ⅱ/Ⅲ的测试；

支持SATA的测试片数定制化例如100片、150片、200片、400片等；

支持研发微小型定制化，例如2片、6片等等；支持室温~+150度的测试；

支持自动化温控测试；

支持全部采用软体进行智能化控制测试；

支持测试软体的定制化，支持箱内风速与温度均衡；

支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制化研发；

支持网络化控制，可以异地控制测试并看测试结果；

支持APP远程控制测试；

满足标准：

1. GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高温试验方法Bb

2. GJB150.3-1986高温试验

可以同时满足SATA2.0,SATA2.5,SATA3.0等产品1000PCS容量的测试要求；可以同时监控1000PCS产品的电压、电流及功率；每层为一个抽屉，可同时测试100PCS的产品，共为10层。