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氧气分析仪在压力真空烤箱中的应用

阅读:47发布时间:2024-9-2

  

  半导体芯片的封装制程中,封胶材料会吸收水汽或产生挥发物质,或在制程中产生空腔(气泡)。IC元件在回焊(reflow)制程中,受热后水汽与空腔体积会瞬间膨胀,导致芯片及封装体本身受到极大的应力,而可能造成IC元件失效。但这些应力不一定会马上造成IC的失效,故会严重影响产品的可靠性、质量等,压力烤箱可有效解决IC封装、覆晶 、突块代工、晶圆封装或面板制程中出现的问题。氧气因其氧化性会加速此类不良反应,同时氧气也是压力的重要标志,因此在压力真空烤箱中氧含量的监测非常重要。


  Microx-223氧气分析仪在监控压力真空烤箱氧含量时,可以通过一系列步骤和要点来确保测量结果的准确性和可靠性。以下是具体的监控方法和注意事项:


一、安装位置

选择适当位置:将Microx-223氧气分析仪安装在压力真空烤箱的气体出口或专门的取样点,确保传感器能够直接、准确地接触到烤箱内的气体。这样可以确保测量的氧含量数据是真实反映烤箱内部的情况。

安装要求:遵循分析仪的安装手册,确保安装稳固且传感器与取样点之间的连接无泄漏。


二、校准

校准前准备:在安装之前,对氧气分析仪进行的校准,包括零点校准和量程校准。这可以确保测量结果的准确性和可靠性。


三、设置报警阈值

阈值设置:在控制系统的界面上,为Microx-223氧气分析仪设置报警阈值。当氧含量超过或低于这些预设值时,系统应能够触发警报,以通知操作人员及时采取措施。

阈值调整:根据压力真空烤箱的工艺要求和产品特性,合理设置和调整报警阈值。


四、实时监控与数据分析

实时监控:在烤箱的运行过程中,Microx-223氧气分析仪会实时监测烤箱内的氧含量,并将数据实时传输到控制系统中。

数据分析:控制系统可以自动记录氧含量的历史数据,并生成报表或趋势图。操作人员应定期分析这些数据,以了解烤箱内氧含量的变化趋势和异常情况。


注意:氧探头压力范围 0-5个大气压,压力烤箱氧探头安装管路前面需要加减压阀。

产品特点 

● 测量范围:1ppm-25% O2

● 响应快(T90响应时间<10>

● 导轨式安装

● LCD 显示和 4 个多功能按钮

● 4-20mA 信号输出

● RS-232 通讯协议 (可选485通讯)

● 24VDC 供电

● 3 组继电器报警

● M18x1.5 螺纹过程接口(可选KF40法兰)



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