上海衡翼精密仪器有限公司
上海衡翼精密仪器有限公司
阅读：57发布时间：2024-7-16
芯片卡三轮反复循环测试机执行标准：
1.GB/T 16649.1-2006《识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分：物理特性》；
2.GB/T 17554.3-2006《识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备》；
3.ISO/IEC 7816-1-2011《Identification cards -- Integrated circuit cards -- Part 1: Cards with contacts -- Physical characteristics》
1.三轮测试仪型号：HY(SL)
2.测试轮循环次数：前后循环各50次
3.适用芯片面积≥4mm2.
4.向下施加压力砝码：1N、2N、3N、7N、8N 10N 12N 15N
5.轮之间轴平面角度≤2°
6.ICC测试速度≤100mm/s.
7.循环测试频率：0.5HZ
8.测试标准参考: Mcd
9.CQM测试标准参考: P-22
10.测试方法参考: 10.3.22
11.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
12.电源: 110-220 V 50/60 Hz.
13.测试厂家：衡翼
原创作者：上海衡翼精密仪器有限公司
仪表网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码