可程式冷热冲击试验箱主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料在瞬间下经过*温和极低温的连续环境下所能承受的程度，藉以在zui短时间内试验其因高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具. 冷热冲击试验箱适用的对象包括金属, 塑料,橡胶, 电子....等材料,可作为其产品改进的依据或参考.

一般来说，可程式冷热冲击试验箱操作分为五部走：预处理、初始检测、试验、恢复、zui后检测。

1、预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

2、初始检测：将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入冷热冲击试验箱内即可。

3、试验：

A、试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

B、高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

C、低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

D、重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。

4、恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。

5、zui后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。

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