氧化诱导期分析仪采用差热分析法(DifferentialThermalAnalysis,简称DTA)或差示扫描量热法(DifferentialScanningCalorimeter,简称DSC)可以简单快速测量电缆绝缘和护套材料的氧化诱导期(OxidativeInductiveTime,简称OIT),因此应用十分普遍。目前国内外都有相应标准试验方法加以规定。但在实际测试中,OIT的数据结果重复性不好。

氧化诱导期分析仪同一种材料测得的数据分散性往往超出了正常的试验允许误差范围。因此测试条件的正确选择非常重要。 本文对OIT测试过程中各种影响因素进行了研究,以便确定适当的测试条件,使测 试结果尽可能真正反映材料本身的抗氧化能力。 

氧化诱导期分析仪试验材料及设备 聚碳酸酯(PC)树脂;差动热分析仪;全自动电子天平。 

OIT的测试 按照GB/T2951.9-1997附录B中规定进行。 

结果与讨论

氧化诱导期分析仪样品因素 样品的主要影响因素在于抗氧剂在树脂中的分散程度不均匀而造成OIT的数值分散性,有数据表明,在一般的材料体系中,OIT的偏差为±2.6min甚至于更大 。因此,在其他因素均已严格控制的理想情况下,电缆料的OIT仍有一定的数据分散性,其分 DOI:10.16105/j.cnki.dxdl.2000.06.008

氧化诱导期分析仪散范围与抗氧剂的分散程度均匀与否有关。在本文试验中为消除上述因素的影响,所采用的样品为PC树脂。 样品的质量大小对OIT的影响可忽略。在其他测试条件相同的情况下,样品的质量增大5倍,PC的OIT结果基本无变化。这是因为OIT的测试是在某一固定温度下进行,不存在动态升温测量中的热阻(滞后效应)等因素影响。但采用薄片状样品(2mg左右),可以缩短其达到平衡温度的时间不同质量的PC试样在190°C下的OIT温度控制