美国博曼XRF镀层测量与分析:基本原理
博曼XRF射线装置利用X射线荧光原理测量镀层和成分。样品被来自射线管的射线轰击,产生荧光。通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素,通过XRF的强度我们可以分析获得样品的厚度和每个元素的成分。
X射线是看不见的。需要设备将X射线转化成我们可以理解和处理的信号,以便我们可以从X射线中提取信息。此设备称为探测器。探测器与数字脉冲器(将X射线转换为电信号)。探测器通常有三个标准,能量分辨率,探测效率和稳健性。能量分辨率是指分辨能量差很小的两个光子的能力。探测效率是指记录X射线的效率。为了实现更好的测量性能,所有博曼设备均配有硅探测器。
一旦从样品生成XRF数据,软件就会将X射线强度转换为厚度或成分。 该软件有两个组成部分:频谱处理和定量分析。
进行定量分析
有两种方法可以进行定量分析。 经验方法,例如干扰系数,α系数等,用多项式函数逼近矩阵效应。 这些方法要求在校准中使用窄范围内的多个标准。 优点是这些方法不需要复杂的计算,并且易于理解和实现。
FP方法通过理论计算校正基质效应。 计算基于物理定律和基本物理参数。 理论上,FP不需要在扩展范围内进行校准和功能。 仍然需要校准以小化物理参数和系统不确定性的误差。 FP的算法发布在1970中,各种FP软件系统之间的差异并不显着。 FP cal比经验cal更复杂,需要更高的计算能力。
博曼测量软件采用Emp和FP镀层厚度演算法
XRF仪器在金属表面处理/终表面处理中的作用:
XRF镀层测厚是10亿美元市场规模的表面处理行业的需求。它同样是一个很好的科技帮手帮助一些利润微薄的电镀企业在低成本实现高品质的镀层。并且知道他们正在避免产品不合规的风险和原料浪费造成的成本损失。
博曼XRF分析仪为各种元素和合金提供非接触镀层厚度测量,测量范围可从十三号铝元素到九十二号铀元素。我们的仪器适用于小部件或复杂形状的超薄的多层合金镀层的行业标准。
在使用纯金属或合金层来增强产品品质和性能的同时,确定样品元素成分和确定镀层厚度一样很重要。
元素分析的应用
博曼XRF系统可分析元素成分,同时可测量镀层厚度,简化了品质管控的流程。
电镀槽组件的管理,包括主要组件,痕量组件以及添加剂。这些因素的管控关乎产品品质与成本。
博曼XRF系统提供高精度,非破坏性,快速和用户友好的方法来分析镀液的金属含量。
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