HAST高压加速老化试验箱是在非饱和湿度、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。HAST高压加速老化试验箱适用于PCB线路板、集成线路(芯片)、半导体封装等测试，如测试半导体封装，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿都胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故障原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。

　　HAST高压加速老化试验箱产品特点：

　　1、内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范。

　　2、多重保护功能：

　　内箱安全装置，箱门若未关紧机器则无法启动;

　　当内箱压力超过蕞大工作值自动排气泄压;

　　各种超压超温，干烧漏电 及误操作等多重人机保护。

　　3、湿度自由选择：

　　饱和与非饱和湿度可自由设定

　　4、知能化高：

　　支持电脑连接利用USB可将数据、曲线可导出保存。

　　5、通电测试：

　　6、可根据客户需求选择定制造多个测试端子，以满足带电测试功能。

　　7、压力数据真实呈现：

　　压力值采实际感应侦测，确保温度、湿度及压力值准确度。