Hast非饱和型老化试验箱可做高温高湿高压、双85试验等测试，用于电子原器件，LED封装，芯片(IC)、集成电路、半导体等检测产品性能之用。

　　【Hast非饱和型老化试验箱安全保护装置】

　　艾思荔采用三道高温保护装置、温度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等，完善的保护装置，保障实验室与操作人员安全。

　　【Hast非饱和型老化试验箱设备质量性能】

　　工艺技术品质好，耐磨性强，设备性能稳定，使用寿命可达20年。

　　【Hast非饱和型老化试验箱新技术*优势】

　　优的温湿度jing密控制逻辑，防止待测品潮湿与结露的模式选择压力值采实际感应侦测，确保温度、湿度及压力值准确度。

　　可选购多个BIAS电压端子：符合JESD22-A110之实验规范要求，模拟待测品在高温、高湿环境下，加载大式作电压，检测内部封装模块材料接合与保护层的渗透，并且观察是否造成迁移。

　　【合作案例】济南半导体研究所、广州赛宝、北京航空航天大学、华为技术、中北大学、NEC电子、北京协同创新研究院、比艾奇、讯芯等等企业。