晶振的频率测试方法

晶振的频率测试方法

很多人用晶体与一个CMOS非门和两个20~30p电容（有时可能需要在晶体两端并联一个10~20M欧姆电阻）组成基本晶体振荡电路。只要使用频率计测量到频率就可认为晶体可以工作。晶体的参数主要有串联等效电感、电阻和电容，需要专门仪器测量，要求不高的一般应用可以不必考虑。

但是在实际应用中,这种方法实在是没有任何意义,对于一个工厂的品质部门来料检测,或生产线上实际应用,那种方法是行不通的.我司生产的晶振测试仪,是专门针对石英晶振,陶瓷晶振,无源晶振,贴片晶振的一款检测仪器.现介绍给大家.

CX-118A晶振测试仪产品简介：

一、CX-118A是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等测量。它测量高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。

具有PPM测量功能，预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业，测试结果显示直观。

主要功能：频率测量，PPM测量，周期测量，数据累计 ，功能设定

二、主要技术指标：

频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz

频率测量灵敏度：30mv

PPm测量：3KHz — 100MHz

PPm测量：≤1 PPm （1×10-6）

（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）

中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定

误差设置范围设定：± 1 — ± 999 PPm任意设定。

闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s三档固定，

1档闸门1ms — 10s可设，

每1mS为一阶梯任意设定。

周期测量范围：100 ms — 10 s

晶振稳定性：5 ×10-7 / 日