32.768KHz晶振的测试方法

来源：深圳市创鑫仪器有限公司 2021年11月19日 15:39

怎样判断32.768KHz晶振的好坏

表晶32.768kHz晶振是市面上使用广泛的一类晶振。爱普生/EPSON目前提供三类32.768kHz晶振产品以满足客户不同需要，分别是：32.768kHz有源晶振（OSC）,32.768kHz无源晶振（X’tal）和内置32.768kHz晶体谐振器的实时时钟模块(RTC)。
有源晶振（OSC）和实时时钟模块（RTC）由于内置了相应的电路，因而不太容易出现不起振的问题。在实际使用时不需要考虑相对复杂的频率匹配问题。
不起振的情况主要出现在无源晶振上，尤其是kHz级别的无源晶振（X’tal），而MHz级别的AT晶振则相对少见。

晶振不起振的原因是什么？

答案是：电路结构与晶体单元不匹配。由此导致产生频率不够稳定、停止起振或振荡不稳定等问题。
因此在电路设计时，为了获得稳定的振荡，通常情况下石英晶体单元与振荡电路的匹配十分重要。
解决晶振不起振至少要对以下三个要素：对振荡频率（频率匹配）、振荡裕度（负阻抗）
和激励功率的三项进行评估

32.768KHz晶振的测试方法：

1、绪论及技术参数

产品简介：

一、CX-118A是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等测量。它测量高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。

具有PPM测量功能，预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业，测试结果显示直观。

主要功能：频率测量，PPM测量，周期测量，数据累计，功能设定

二、主要技术指标：

频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz

频率测量灵敏度：30mv

PPm测量：3KHz — 100MHz

PPm测量：≤1 PPm （1×10-6）

（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）

中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定

误差设置范围设定：± 1 — ± 999 PPm任意设定。

闸门设置：四档，0.01s、 0.1s、1s三档固定，

1档闸门1ms — 10s可设，

每1mS为一阶梯任意设定。

周期测量范围：100 ms — 10 s

晶振稳定性：5 ×10-7 / 日

时基频率：OCXO--10MC

三、特点：

微机控制，可编程器件开发，模块化设计

100MHz同步等测量方式

SMT贴装生产、工艺，全新小型化结构设计

9位LED显示

PPm提示功能

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