想知道x射线测厚仪的特点有哪些不妨看看本篇吧

中山市鑫天溯技术有限公司

进入展台在线留言

欢迎联系我

有什么可以帮您？在线咨询

想知道x射线测厚仪的特点有哪些不妨看看本篇吧

来源：中山市鑫天溯技术有限公司 2022年08月02日 11:00

　　x射线测厚仪主要用于测量设备的生产中*的极薄膜、多层膜乃至半导体晶圆的硅胶基板厚度，膜厚仪可满足用户各种各样的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

　　X射线膜厚测试机采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

　　在膜厚测量电路中，正弦振荡器IC1、IC2产生频率为1-100kHz的正弦波，加在变压器B1初级上，次级输出的正弦信号加到桥式电路的输入端，由该桥路在非平衡状态下获取金属材料表面的涡流变化;涡流变化量由检测放大器IC3进行适当放大，再经交流放大器IC4和IC5放大数十倍后，经转换电路将涡流变化量转换为膜厚，由指示仪表显示。

　　X射线膜厚测试机的产品特点有哪些?下面让我们一起来了解一下吧：

　　1、该膜厚仪严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

　　2、测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

　　3、支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

　　4、实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据

　　5、配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性

　　6、支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能

　　7、微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板

　　以上就是本篇为您分享的全部内容，希望以上的内容能够对大家有所帮助，感谢您的观看和支持，后期会整理更多资讯给大家，敬请关注我们的网站更新。

免责声明

凡本网注明“来源：仪表网”的所有作品，均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-仪表网合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：仪表网”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源（非仪表网）的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或和对其真实性负责，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品第一来源，并自负版权等法律责任。
如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。