在上一期的内容中，主要介绍了耐电压试验与部分放电试验这两种绝缘评价试验的基本定义。

在这一期会更深入的来介绍一下部分放电试验。

部分放电试验

部分放电是绝缘体的一部分发生局部破化的放电现象。这种现象主要发生在绝缘体间隙 (间隙、void、gap、气泡等)中的空气放电。而电晕放电在广义上也是局部放电的一种。

在通常情况下，空隙是由空气等的气体所形成，由于其尺寸非常小，所以空隙的静电容量也很小。在电极间施加电压后，在静电容量非常小的空隙部分会受到很大的电压。在此类微小的空隙中施加高电压后，超过空气的破坏电解而放电的现象被称为部分放电。

部分放电试验的持续性

一旦发生放电后，间隙间就会被短路，放电也会被立即中止。因此，对于测试电压是直流还是交流会有很大的变化。

如下图所示，当Vt为交流时，vg会马上再次上升⇒ 再次达到破坏电解，再进行放电当Vt为直流时，vg则不会发生变化，所以很难再发。

作为结论，发生部分放电时会呈现脉冲状，并且比起直流，使用交流进行试验会更容易的检测出部分放电。

为何要进行部分放电试验

在耐电压试验中，对被测物施加高交流电压，检测被测物绝缘破坏时流动的泄漏电流，从而判断合格/不合格。也就是说被视为"绝缘破坏 ＝ 电流增加"来处理，所以在试验中不合格的被测物在大多情况下都处于被损坏并且无法复原的状态。

另外，在耐电压试验中没有击穿 (电流增加)的情况下，即使存在导致绝缘不良的空隙，也可判断为合格品。另一方面，部分放电试验为捕捉绝缘发生前的电荷量增加，因此在多数情况下被测物不会被破坏。

部分放电试验与绝缘破坏的关系

部分放电试验是调查绝缘物的绝缘状态的有效手段。而这两者间的关系可参考下图。

当对被测物的施加电压逐渐上调后，首先会进入放电开始(A)的状态。之后产生火花并转移至电弧放电，最终达到绝缘破坏。之后会先进入B~C的稳定区域部分，但从C~D的部分，则会发生部分放电的激增，最终导致绝缘破坏。

部分放电试验推荐使用菊水的TOS9301PD

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本文来源于KIKUSUI菊水

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