ElektroPhysik*涂层测厚仪的校准标准片与基体

来源：笃挚仪器（上海）有限公司 2022年10月18日 10:02

一、ElektroPhysik*涂层测厚仪的校准标准片（包括箔和基体）

已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。

1、校准箔

对涂层测厚仪“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的校准。

2、有覆盖层的标准片

采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪器，覆盖层应是非磁性的。

二、ElektroPhysik*涂层测厚仪的基体

1、对于涂层测厚仪标准基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。

2、如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：

1）在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；

2）用一足够厚度的，电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。

3、如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。

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