CMOS测试和校准

来源：上海倍蓝光电科技有限公司 2023年08月11日 11:23

传感器和成像仪校准

标定CMOS，通常将待测物放于积分球的出口，并且需要屏蔽积分球内灯的直接照射。积分球开口端光源是通过多次漫反射间接提供的，从而使其有效区暴露在一个均匀辐照度下。

积分球出口处的照度是经校准的，在测试过程中，连接在积分球上的监测探测器通过辐射计给出照度读数。评估设备对已知均匀照度的响应，以验证是否符合规范，或识别和纠正工艺问题。

在这种方法中可以使用不同类型的光源。积分球可以用调节的白炽灯照明，或者光源可以设计成模拟特定的光谱分布，例如平均日光。积分球也可与单色仪耦合，用于光谱表征。

Labsphere的均匀光源积分球和积分球均匀光源系统可测试用于光伏或光导应用的半导体晶圆和器件的响应性和/或量子效率。

凡本网注明“来源：仪表网”的所有作品，均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-仪表网合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：仪表网”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源（非仪表网）的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或和对其真实性负责，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品第一来源，并自负版权等法律责任。
如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。