在M3-PALS快慢场混合模式相位分析技术（简称M3测试技术）中，高频电场的转换能够准确地测量zeta电位的平均值，但是电位分布分辨率较低；低频电场的转换可以给出更好的电位分布分辨率，但是易受到电渗的影响导致结果漂移；M3测试技术结合高频、低频电场转换进行合并分析计算，既得到准确的平均zeta电位，又得到了准确的电位分布结果。

其分析能力甚至还能对多电位分布的样品进行多峰电位分布结果的输出，对各种纳米材料、制剂的修饰、包覆、活化等工艺开发及配方调整提供强有力的指引，可以为企业减少配方开发时间，提高产品质量和声誉。

NS-90Z Plus支持有机相微纳米颗粒的Zeta电位测试，选用耐腐蚀高透光性的石英玻璃比色皿搭配耐腐蚀的PEEK（聚醚醚酮）和钯材料的插入式电极。

该设计正负电极片之间的距离更短，以尽可能的低的电压使通常导电性不佳的有机相的纳米体系的Zeta电位分析也可以轻松的进行。其测量步骤与弯曲式U型毛细管样品池的相同，灵敏度高，样品之间可轻松快速切换且易于维护。

我们以NS-90Z Plus测试了某用户抱怨的高电位但体系却不稳定的高分子样品。如下图Zeta电位测试结果显示，其之前送样测试的该样品虽然拥有很高的电位绝对值，但其电位分布离散度也非常大，且曾双峰分布。

该结果暗示了该产品的设计理论上可以得到非常好的稳定体系，但当前的颗粒修饰加工工艺还需要进一步完善，例如可以调整批加工物料投放量、搅拌等分散条件、试剂比例、压力、温度、反应时间、pH值等工艺条件来提高修饰均一性，缩窄电位分布的宽度，避免跨越等电点附近的有害不带电颗粒的存在。

在这个案例中，得益于NS-90Z Plus高精准的电位分布测试性能，发现了之前电位分析中难以识别到的少量影响产品质量的Zeta电位离散颗粒的分布信息，解答了用户的困扰，使得其可以根据测试结果快速调整工艺参数，产品质量得以不断改善。